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セミナー詳細
出展社による最新包装技術セミナー
金属検出機のデータ分析による検査の環境評価と誤検出の低減 アンリツ株式会社 インフィビスカンパニー 食品事業部 共通技術部 共通技術チーム 新井 竜実 氏
金属検出機は被検査品による磁界の変化を数値化し、しきい値を超えた場合にNG判定をするが、しきい値の設定は経験に頼り個人差も大きい。金属検出機をうまく使いこなせず、歩留まりの低下や異物混入を見逃す状況に悩む現場は多い。
今回紹介するシステムは、総合品質管理システムQUICCAの新機能で、製造現場において把握が難しい製品影響値の変化をデータに基づき可視化・分析し、高感度で且つ誤検出の少ない設定を可能とする。
会場:
東2ホールC会場
開催日時:
10月16日(金)10:20~10:50
参加方法:
当日受付・先着順
※ ご来場の事前登録が必要です。
講師:
新井 竜実 氏
アンリツ株式会社 インフィビスカンパニー 食品事業部 共通技術部 共通技術チーム
ご来場
事前登録
開催日時 > 10月16日(金)
カテゴリー > 出展社による最新包装技術セミナー